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Mustererkennung 2000: 22. Dagm-Symposium. Kiel, 13.-15. September 2000 (Informatik Aktuell) (Paperback)

Mustererkennung 2000: 22. Dagm-Symposium. Kiel, 13.-15. September 2000 (Informatik Aktuell) Cover Image
By Gerald Sommer (Editor), Norbert Krüger (Editor), Christian Perwass (Editor)
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Description


Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft f r Mustererkennung veranstaltet seit 1978 j hrlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwischen den Fachleuten anzuregen und den Nachwuchs zu f rdern.
In dem dieses Jahr erstmals durchgef hrten Kontaktforum unter dem Titel "Forum Industrie und Wissenschaft" findet der Austausch von Industrie und Wirtschaft besondere Beachtung.

Product Details
ISBN: 9783540678861
ISBN-10: 3540678867
Publisher: Springer
Publication Date: September 1st, 2000
Pages: 490
Language: German
Series: Informatik Aktuell

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